芯片做“显微手术”：北测芯源如何用技术帮客户找到那1%的失效真相

2026 年半导体拐点已现：AI 驱动全链景气，国产材料 / 设备迎来黄金窗口期

算力需求爆发 + 供应链重构，本土半导体产业链进入价值重估阶段

聚焦离子束（FIB）技术在汽车芯片失效分析中的应用

聚焦离子束（Focused Ion Beam, FIB）技术凭借其高精度微纳加工、原位成像和样品制备能力，已成为汽车芯片失效分析中不可或缺的核心手段。